佈局視覺化
LV+ (Lavis Plus)
IC 佈局檢視與電性分析工具,內建基礎設計檢查與編輯功能。透過 8 執行緒平行處理,OASIS 開啟時間縮短至約 1/5、GDS/OASIS 繪圖時間縮短至 1/10,LEF/DEF 記憶體用量減半。
- 支援標準格式:GDS、OASIS、Jobdeck、LEF/DEF
- 強大的節點追蹤功能:含電性短路偵測、間距/線寬與雙 via 檢查
- Layout to Schematic,以及 Image to Layout
- DRC/DFM 錯誤列表與檢視,並支援與 ICV、Calibre、Hamamatsu 等工具介接
- 同步 3D 檢視、剖面圖與批次處理,並提供可客製化 API
