凱為科技 Kaviaz Technology
工程師手指向大型曲面螢幕上的 IC 版圖,畫面中標示紅黃兩色的 DRC 錯誤點
EDA 解決方案

TOOL Corporation

LV+ :處理超大版圖也不卡的視覺化平台

  • Layout Viewer
  • GDS/OASIS
  • DRC/DFM
  • Pattern Matching

TOOL 是總部位於東京的 EDA 軟體公司,專注於半導體與光罩資料產業的工具開發,定位為從研發、設計、驗證到支援服務的「一站式」解決方案供應商,並提供客製化開發服務。LV+(Lavis Plus)以極佳的效能處理龐大的版圖資料,並整合節點追蹤、DRC/DFM 錯誤檢視、圖樣比對與缺陷分析等實務功能。

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產品與功能

TOOL Corporation 產品線

佈局視覺化

LV+ (Lavis Plus)

IC 佈局檢視與電性分析工具,內建基礎設計檢查與編輯功能。透過 8 執行緒平行處理,OASIS 開啟時間縮短至約 1/5、GDS/OASIS 繪圖時間縮短至 1/10,LEF/DEF 記憶體用量減半。

  • 支援標準格式:GDS、OASIS、Jobdeck、LEF/DEF
  • 強大的節點追蹤功能:含電性短路偵測、間距/線寬與雙 via 檢查
  • Layout to Schematic,以及 Image to Layout
  • DRC/DFM 錯誤列表與檢視,並支援與 ICV、Calibre、Hamamatsu 等工具介接
  • 同步 3D 檢視、剖面圖與批次處理,並提供可客製化 API
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格式工具

OASIS Utility

GDS/OASIS 雙向格式轉換工具,並具備符合 SEMI 規範的驗證能力,內建 10 支獨立工具程式涵蓋格式轉換、編輯、階層展開與規則驗證,定位為「簽核級」工具,可對客製化版圖規則進行超越基本 OASIS 規格的檢查。

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計算工具

RSCalc

點對點電阻計算工具(含合成電阻與最低電阻路徑),並提供彩色分佈圖呈現的電流密度與電壓計算。不需要 netlist,適合在電源/接地繞線的早期階段進行驗證,並可整合 LAVIS-plus 呈現電阻熱點分佈。

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